Алфорд Терри Л.: Фундаментальные основы анализа нанопленок
Скачать книгу (размер 2 013 Kb , формат fb2, страниц 396) Аннотация: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры…